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量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

簡要描述:測量精度高

可瞬間測量絕對(duì)量子效率(絕對(duì)量子收率)

可去除再激勵(lì)熒光發(fā)光 采用了積分半球unit,實(shí)現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-12-19
  • 訪  問  量:605

推薦產(chǎn)品

詳細(xì)介紹

品牌OTSUKA/日本大塚

產(chǎn)品信息

特長

堅(jiān)持高精度測量

●可即時(shí)測量絕對(duì)量子效率(絕對(duì)量子產(chǎn)率)

●可去除再激發(fā)熒光發(fā)射

●采用積分半球單元,實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)。

●低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區(qū)的雜散光

 

堅(jiān)持簡單的操作

●使用專用軟件輕松操作

●易于安裝/拆卸樣品測量池

●節(jié)省空間且緊湊的設(shè)計(jì)

●可以使用分光型激發(fā)光源選擇任意波長。

●通過在軟件上指zhi定激發(fā)波長的波長和步長值,可以進(jìn)行自動(dòng)測量。

 

堅(jiān)持多功能

●與粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容

●豐富的分析功能

●量子效率(量子產(chǎn)率)測量

●激發(fā)波長相關(guān)性測量

●發(fā)射光譜測量

●PL激發(fā)光譜測量

●EEM(激發(fā)發(fā)射矩陣)測量

 

用法

LED 和有機(jī) EL 熒光粉的量子效率(量子產(chǎn)率)測量薄膜狀

樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率(量子產(chǎn)率)測量-遠(yuǎn)程熒光粉等的熒光樣品

量子點(diǎn)、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量。

染料敏化太陽能電池的量子效率(量子產(chǎn)率)測量

復(fù)雜化合物的測量

 

高精度的原因

1. 具有積分半球的理想光學(xué)系統(tǒng)

QE-2000 配備有積分半球。與積分球(全局)相比,積分球具有以下特點(diǎn)。

由于非發(fā)光部分(支架等)可以暴露在外面,所以可以保持很小的自吸收,并且可以實(shí)現(xiàn)理想的光學(xué)系統(tǒng)。

反射鏡使同一點(diǎn)的照度增加一倍,從而實(shí)現(xiàn)高靈敏度測量。

樣品測量池可以輕松安裝和拆卸,并且?guī)缀鯖]有損壞積分球內(nèi)部的風(fēng)險(xiǎn)。
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

2.通過再激發(fā)熒光校正功能觀察“真實(shí)物性值”

在包括再激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下,觀察包括器件的特性,而不是對(duì)材料本身物性的觀察,無法得到真實(shí)的物性值。QE-2000 可以通過利用積分半球的再激發(fā)熒光校正進(jìn)行簡單而準(zhǔn)確的測量。
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

 

3.低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區(qū)雜散光

使用傳統(tǒng)檢測器(多色儀)時(shí),紫外區(qū)域的雜散光以高水平檢測,因此不適合測量量子效率(量子產(chǎn)率)。大冢電子通過開發(fā)消除雜散光的技術(shù)解決了這個(gè)問題。安裝在 QE-2000 上的多通道分光檢測器的雜散光強(qiáng)度約為我們傳統(tǒng)產(chǎn)品的 1/5,即使在紫外線區(qū)域也能實(shí)現(xiàn)高精度測量。

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

原理

量子效率(量子產(chǎn)率)測量概念

參考和樣品激發(fā)光、熒光光譜測量示例

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

規(guī)格

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

選項(xiàng)

自動(dòng)進(jìn)樣器

樣品架 (
1) 用于粉末測量 SUS304 材質(zhì),帶石英蓋 (
2) 用于薄膜測量 用于透射測量的樣品架
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

軟件

直觀且易于使用的專用軟件。只需設(shè)置樣品測量池,即可輕松測量量子效率(量子產(chǎn)率)、激發(fā)光譜等。

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

測量示例

粉末樣品的測量

BAM 多重激勵(lì)的測量示例

當(dāng)激發(fā)波長發(fā)生變化時(shí),量子效率(量子產(chǎn)率)發(fā)生變化。下圖顯示了 BAM(粉末)的量子效率(量子產(chǎn)率)和反射率的激發(fā)波長依賴性。(BAM = BaMgAl10O17: Eu) ● 藍(lán)色(左刻度):再激發(fā)校正后的內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率) ■ 紅色(右刻度):每個(gè)激發(fā)波長的反射率 從該圖中,在 BAM 的情況下可以可見,隨著激發(fā)光接近可見光區(qū),吸收率降低,即反射率增加。

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

 

溶液樣品的測量

熒光素激發(fā)光譜的測定

激發(fā)光譜是指示熒光強(qiáng)度在哪個(gè)激發(fā)波長下最zui大化的光譜。右圖顯示了熒光素(藍(lán)色)的激發(fā)光譜和激發(fā)波長(493 nm)處熒光強(qiáng)度最大的熒光光譜(綠色)。

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

 

熒光素內(nèi)部量子效率的測量(內(nèi)部量子產(chǎn)率)

右圖為熒光素溶液在493 nm激發(fā)波長下的熒光光譜(包括激發(fā)光)。內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率)為0.903(濃度6.43×10-6 mol/L),相當(dāng)于文獻(xiàn)值0.921)。1) G. Weber 和 FWJ Teale,Trans Faraday Soc 53, 646 (1957)

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

 

測量量子點(diǎn)的內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率)

量子點(diǎn)作為可以通過改變其組成和內(nèi)部結(jié)構(gòu)來調(diào)整其光學(xué)特性的材料而備受關(guān)注。量子點(diǎn)的激發(fā)光譜和激發(fā)波長為370 nm的熒光光譜如下圖所示。

量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

QE-2100

測量單元、檢測單元、光源單元為獨(dú)立類型
除標(biāo)準(zhǔn)功能外,還可根據(jù)應(yīng)用進(jìn)行擴(kuò)展。

量子效率測光系統(tǒng)(分體式)QE-2100
量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

 

特殊長度

溫度控制功能(50-300°C)可實(shí)現(xiàn)量子效率(量子產(chǎn)率)的溫度相關(guān)測量

通過根據(jù)應(yīng)用構(gòu)建光學(xué)系統(tǒng),可以支持各種樣品。

該探測器還可用于總光通量測量和光分布測量

檢測器可以改變到另一個(gè)波長范圍

兼容紫外至近紅外寬帶(300 至 1600 nm)規(guī)格


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