產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測試
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
RELATED ARTICLESWT-2000MCT/μ LBIC 適用于對超低溫有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被廣泛用于化合物材料的缺陷,雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。
WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激發(fā)光,適合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測試。
WT-1200A 是單點(diǎn)式少子壽命測試系統(tǒng),具備無接觸等優(yōu)點(diǎn)。
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
網(wǎng)絡(luò)分析儀主要特性和功能:$n· 具有緊湊型頻率擴(kuò)展器的單次掃描解決方案$n· 可以作為單個(gè)產(chǎn)品解決方案一次性購買$n· 對器件施加精確的調(diào)平功率,進(jìn)行功率掃描$n· 提供各種應(yīng)用軟件,幫助您進(jìn)行詳細(xì)分析
公司郵箱: qgao@buybm.com
服務(wù)熱線: 021-61052039
公司地址: 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造J6區(qū)202室
Copyright © 2024 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 Al Rights Reserved
備案號:滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀