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  • LEI Model2017B汞探針測試

    LEI Model2017B,通過汞探針接觸方法,對各類半導體材料的載流子濃度分布進行測試,特別適合GaN.SiC等化合物材料。

    更新日期:2024-11-08
    型號:LEI Model2017B
    廠商性質:生產廠家
  • 汞CV測試系統

    汞CV測試系統,用于對外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測試; MCV-530L可測最大200mm的樣品。

    更新日期:2024-11-08
    型號:
    廠商性質:生產廠家
  • CV-1500非接觸CV測試系統

    CV-1500,用于測試界面和介電層的科研平臺,基于SDI Corona-Kelvin技術,可以進行非接觸C-V/I-V測試。

    更新日期:2024-11-08
    型號:
    廠商性質:生產廠家
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