深能級瞬態譜測試儀

產品簡介
深能級瞬態譜儀(DLTS)是檢測半導體材料和器件缺陷和雜質的最好技術手段，它可以測定各種深能級相關參數，如深能級，俘獲界面，濃度分布等。

產品型號：

更新時間：2024-12-19

廠商性質：生產廠家

訪問量：219

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

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Capability:

High sensitivity 高靈敏度
C-V characterization 深能級C-V測試
Capture cross section measurement 俘獲界面測試
Optical injection 光注入
Conductance transient measurements 瞬態電導測試
Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基礎測試
Cryostats LN2,低溫致冷

深能級瞬態譜測試儀

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

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