光致發(fā)光檢測(cè)設(shè)備

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
光致發(fā)光主要對(duì)材料能帶結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)濃度和缺陷，組分機(jī)理以及材料質(zhì)量進(jìn)行檢測(cè)。

WT-2000PL專門針對(duì)PL應(yīng)用開發(fā)，具有非接觸，快速，可變溫，光斑等特點(diǎn)。

產(chǎn)品型號(hào)：WT-2000PL

更新時(shí)間：2024-12-27

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測(cè)試

體微缺陷測(cè)試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測(cè)試 CV測(cè)試系統(tǒng)集成測(cè)試儀器租賃

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詳細(xì)解讀顯微光電成像系統(tǒng)按照物鏡系統(tǒng)分成的三個(gè)主要類別

和常規(guī)的相比使用C-T結(jié)構(gòu)的中階梯光譜儀有何特殊之處

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Capability:

微光斑
激發(fā)光波長(zhǎng)可選.
高分辨率PL掃描
適合科研的變溫掃描

光致發(fā)光檢測(cè)設(shè)備

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

上一個(gè)：PV-2000A 光伏多功能掃描系統(tǒng)